簡要描述(shu):DJH-G鍍(du)層(ceng)膜厚(hou)儀測(ce)量(liang)原(yuan)(yuan)理(li):利用法(fa)拉第(di)原(yuan)(yuan)理(li)設計(ji),其過程類似于電鍍(du),但電化學反應的(de)方向相反,是電解除鍍(du)。庫侖法(fa)測(ce)厚(hou)是對被測(ce)部(bu)分(fen)的(de)金屬(shu)鍍(du)層(ceng)進行局(ju)部(bu)陽極溶(rong)解,通(tong)過陽極溶(rong)解鍍(du)層(ceng)達(da)到基體(ti)時的(de)電位(wei)變化及所需時間來(lai)進行鍍(du)層(ceng)厚(hou)度(du)的(de)測(ce)量(liang)。
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產品用途:
DJH-G鍍層膜厚儀是對(dui)被測部分的金(jin)屬鍍(du)層進行局部陽極(ji)溶解,通過陽極(ji)溶解鍍(du)層達到(dao)基(ji)體時的電(dian)位變化及所需時間來(lai)進行鍍(du)層厚度(du)的測量。
技術參數
測量鍍種:裝飾鉻(ge)、鎳、銅(tong)、鋅、錫、銀(yin)、金、鎘、硬(ying)鉻(ge)、化(hua)學鎳、多(duo)層(ceng)鎳;
鍍層底材:金(jin)屬(shu)、非金(jin)屬(shu)、釹鐵硼等;
鍍(du)層(ceng)(ceng)層(ceng)(ceng)數:單(dan)層(ceng)(ceng)及(ji)復合多層(ceng)(ceng);
小可測尺寸:φ2.4mm(B型測試膠圈(quan))、φ1.7mm(S型測試膠圈(quan));
數據處(chu)理:電腦顯示(shi)器(qi)實時顯示(shi)測試過程中厚度及電位變化曲線;
技術特性:
測量鍍層:鉻、鎳、銅、鋅、錫、銀、金(jin)(jin)、鎘(ge)等金(jin)(jin)屬鍍層,鎳合(he)金(jin)(jin)鍍層,復合(he)鍍層(如Cr/Ni/Cu)
測量(liang)范圍:0~35 μm
分 辨 率(lv):金(jin)、裝(zhuang)飾鉻:0.01 μm,其他鍍層:0.1μm
不確(que)定(ding)度(du):≤±10%
測量尺寸:標準型(xing)2100B:小(xiao)工件(jian)(jian)(jian)尺寸 φ2.5mm(5mm2)或φ6mm以上直徑工件(jian)(jian)(jian);較小(xiao)型(xing)2100S:小(xiao)工件(jian)(jian)(jian)尺寸 φ2mm(3mm2)或φ2.5mm以上直徑工件(jian)(jian)(jian)
數據處理(li):電(dian)腦顯(xian)示器(qi)實時顯(xian)示測試過(guo)程(cheng)中厚度及電(dian)位(wei)變(bian)化(hua)曲線;測試結(jie)果可保存于電(dian)腦中,可隨時查閱;可打印測試報告
電 源:交流220V±10%,50/60Hz,30W
主機凈(jing)尺寸:210(W)×360(D)×85(H)
圖片僅供參考:
科正儀器專業生產銷售DJH-G鍍層膜厚儀,電鍍層(ceng)測厚(hou)儀,鹽霧試驗機,復合鹽霧箱,恒溫(wen)恒濕箱。
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